Surtronic DUO 英國泰勒霍普森粗糙度儀信息

Surtronic DUO粗糙度儀通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置，確保測針在被測表面行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測針劃過波峰和波谷時(shí)，高感應(yīng)度的壓電傳感器能敏銳地檢測到它的垂直移動(dòng)，并將這種機(jī)械移動(dòng)迅速轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號隨后進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，微處理器運(yùn)用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時(shí)計(jì)算出表面粗糙度參數(shù)，為用戶提供精準(zhǔn)的測量數(shù)據(jù)。

Surtronic DUO粗糙度儀可一鍵測量多種粗糙度參數(shù)，如 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt、Rz1max、Rsk、Rq、Rku、Pa、Pz、Pp、Pv、Pt 等，符合 ISO 4287 標(biāo)準(zhǔn)，能充分滿足不同用戶在各類復(fù)雜場景下對表面粗糙度測量的多樣化需求。